|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Сканирующий туннельный микроскоп – измерительное средство наноэлектроникистатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК- Авторы: Бычихин С.А., Галлямов М.О., Потемкин В.В., Степанов А.В., Яминский И.В.
- Журнал: Измерительная техника
- Номер: 4
- Год издания: 1998
- Издательство: Стандартинформ
- Местоположение издательства: М.
- Первая страница: 58
- Последняя страница: 61
- Добавил в систему: Степанов Александр Викторович