|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Нечеткая модель диагностики технологических процессовстатья
- Авторы: Богатиков В.Н., Лопатин А.Г., Фам К.Б., Мурашев П.М., Санаева Г.Н.
- Сборник: Вестник Международной Академии Системных Исследований. Информатика, Экология, Экономика. Том 25 Часть 2
- Год издания: 2023
- Место издания: Международная Академия Системных Исследований Москва
- Первая страница: 169
- Последняя страница: 178
- Добавил в систему: Санаева Галина Николаевна