Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Bit Depth Impact Analysis of the Gaussian Process Quantization Errors
статья
Авторы:
Gvozdarev Aleksey S.
,
Bryukhanov Yury A.
Сборник:
2020 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS)
Год издания:
2020
Место издания:
IEEE
DOI:
10.1109/ewdts50664.2020.9225108
Добавил в систему:
Гвоздарёв Алексей Сергеевич