|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Bit Depth Impact Analysis of the Gaussian Process Quantization Errorsстатья
- Авторы: Gvozdarev Aleksey S., Bryukhanov Yury A.
- Сборник: 2020 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS)
- Год издания: 2020
- Место издания: IEEE
- DOI: 10.1109/ewdts50664.2020.9225108
- Добавил в систему: Гвоздарёв Алексей Сергеевич