Аннотация:Метод дискретных источников модифицирован для математического моделирования и исследования рассеивающих свойств несферических частиц, локализованных на поверхности проводящей пленки, расположенной на стеклянной призме. Проведено исследование как дифференциальных, так и интегральных рассеивающих свойств наноразмерных металлических частиц. Показано, что возможно обеспечить рост сечения рассеяния за пленкой в 10^7 раз за счет деформации и сдвига частиц по отношению к пленке. Установлено, что распределение рассеянной интенсивности в призме имеет вид остронаправленных лучей, причем интенсивность в максимумах превышает амплитуду падающей волны в 15–30 раз.