|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
On irradiated thin film characterization by use the computer modeling: statistic and energetic estimationsтезисы доклада
- Автор: Eltekov V.A.
- Сборник: Abstracts of Materials Research Society 1995 Spring Meeting, San Francisco, Ca., U.S.A., 17-21 April 1995
- Тезисы
- Год издания: 1995
- Место издания: San Francisco, Ca., U.S.A
- Добавил в систему: Эльтеков Виталий Анатольевич