Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
On irradiated thin film characterization by use the computer modeling: statistic and energetic estimations
тезисы доклада
Автор:
Eltekov V.A.
Сборник:
Abstracts of Materials Research Society 1995 Spring Meeting, San Francisco, Ca., U.S.A., 17-21 April 1995
Тезисы
Год издания:
1995
Место издания:
San Francisco, Ca., U.S.A
Добавил в систему:
Эльтеков Виталий Анатольевич