|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Algorithms for Dynamic Hardness Measurements by Scratch Testing in the Submicron and Nanometer Scaleстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Scopus,
Web of Science
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 4 сентября 2014 г.
- Авторы: Lvova N.A., Kravchuk K.S., Shirokov I.A.
- Журнал: Advanced materials research
- Том: 853
- Год издания: 2014
- Издательство: Trans Tech Publications
- Местоположение издательства: Stafa-Zurich, Switzerland, Switzerland
- Первая страница: 619
- Последняя страница: 624
- DOI: 10.4028/www.scientific.net/AMR.853.619
- Аннотация: The automatic scratch geometrical parameters analysis algorithms based on the images obtained by scanning probe microscopy have been developed. We provide a description of the technique to determine the contact area and the scratch volume with and without account of the pile-ups. The developed algorithms are applied to measure the dynamic hardness by sclerometry on the submicron and nanometer scale
- Добавил в систему: Широков Иван Анатольевич