Исследование покрытий на основе оксида гафния с использованием спектрометрии ядерного обратного рассеяниястатья

Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 26 декабря 2017 г.

Работа с статьей


[1] Исследование покрытий на основе оксида гафния с использованием спектрометрии ядерного обратного рассеяния / А. М. Борисов, М. Н. Полянский, С. В. Савушкина и др. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. — 2017. — № 7. — С. 43–48. Методом плазменного напыления сверхзвуковой струей в разреженной атмосфере получены однослойные покрытия из оксида гафния и двухслойные покрытия с промежуточным слоем никеля общей толщиной 70 мкм. С целью формирования наноструктурного покрытия использовали сопло с насадком, реализующее веер волн разрежения Прандтля–Майера. Для исследования покрытий использованы методы ядерного обратного рассеяния протонов с энергией 7.6 МэВ, растровой электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и рентгеновской дифракции. Исследование поверхности и поперечного шлифа покрытий показало, что наряду с деформированными частицами напыляемого порошка размером более 20 мкм покрытие содержит слои и конгломераты наночастиц размером 30–60 нм. Профилирование элементного состава по глубине методом спектрометрии ядерного обратного рассеяния протонов показало наличие переходных слоев на границе раздела между подложкой и слоями покрытия, характеризующих средний размер микрочастиц в покрытии. Сопоставление толщин, определенных двумя методами, позволило оценить общую пористость слоя оксида гафния. По данным рентгеновской дифракции в покрытиях формируются кубическая и моноклинная фазы оксида гафния с высокой долей аморфной составляющей. [ DOI ]

Публикация в формате сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл сохранить в файл скрыть