|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
X-ray High Resolution Reflectometry of Boron Layers, Received by Laser Sputtering on Silicon Substratesтезисы доклада
- Авторы: Bushuev V.A., Petrakov A.P.
- Сборник: Abstr. 4th European Conference on “High Resolution X-ray Diffraction and Topography” (Durham, U.K., 9-11 September 1998), P. P3.42
- Тезисы
- Год издания: 1998
- Место издания: Durham
- Первая страница: 42
- Последняя страница: 42
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич