|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Параметры пористых наноструктур по данным малоуглового рассеяния в методе трехкристальной рентгеновской дифрактометриитезисы доклада
- Авторы: Ломов А.А., Бушуев В.А., Караванский В.А.
- Сборник: Тезисы докладов Всероссийской научно-технической конференции “Микро- и наноэлектроника-98” (Звенигород. 1998), С Р 2-59
- Тезисы
- Год издания: 1998
- Место издания: Москва
- Первая страница: 59
- Последняя страница: 59
- Добавил в систему: Бушуев Владимир Алексеевич