|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Dependence of exchange bias field on thickness of antiferromagnetic layer in Co(or NiFe)/IrMn structuresтезисы доклада
- Авторы: Rodionova V., Dzhun I., Chichay K., Chechenin N.
- Сборник: Book of Abstracts The European Conference PHYSICS OF MAGNETISM 2014 (PM’14)
- Тезисы
- Год издания: 2014
- Место издания: Poland
- Первая страница: 186
- Последняя страница: 186
- Добавил в систему: Джунь Ирина Олеговна