|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
High-temperature growth and comparative characterization of (Er,Yb):YAl3(BO3)4 and NdAl3(BO3)4 epitaxial layersстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 31 октября 2014 г.
- Авторы: Volkova E.A., Maltsev V.V., Kolganova O.V., Leonyuk N.I.
- Журнал: Journal of Crystal Growth
- Том: 401
- Год издания: 2014
- Издательство: Elsevier BV
- Местоположение издательства: Netherlands
- Первая страница: 547
- Последняя страница: 549
- DOI: 10.1016/j.jcrysgro.2014.01.035
- Аннотация: Er0.04Y0.96Al3(BO3)4, Er0.015Yb0.11Y0.875Al3(BO3)4 and NdAl3(BO3)4 epitaxial layers were grown from K2Mo3O10-based fluxed melts by an LPE method. SGDS grown YAl3(BO3)4 and NdAl3(BO3)4 single crystals were used as substrates. Growth kinetics, homogeneity and micromorphology of Er:YAl3(BO3)4, (Er,Yb): YAl3(BO3)4 and NdAl3(BO3)4 thin films were investigated. &
- Добавил в систему: Леонюк Николай Иванович