Аннотация:Строится численная схема метода дискретных источников для математического моделирования рассеивающих свойств наночастиц, заглубленных в подложку. Проводится анализ, как
дифференциальных, так и интегральных рассеивающих характеристик частиц различной
степени заглубленности. Показано, что можно отличать заглубленные частицы от расположенных на подложке используя Р поляризацию внешнего возбуждения и два угла падения волны.