|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Эталон нанометрастатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАКДата последнего поиска статьи во внешних источниках: 27 января 2018 г.
- Авторы: Пылев И., Яминский И.В.
- Журнал: Наноиндустрия
- Номер: 5
- Год издания: 2017
- Издательство: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 52
- Последняя страница: 56
- DOI: 10.22184/1993-8578.2017.76.5.58.61
- Аннотация: В работе проводится обзор существующих эталонов высоты для сканирующей зондовой микроскопии, подробно описывается принцип работы и методика создания динамической измерительной меры для сканирующей зондовой микроскопии – эталона нанометра.
- Добавил в систему: Яминский Игорь Владимирович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|---|---|---|---|---|
| 1. | Полный текст | Nanoindustriya_No5_Etalon_nanometra_s.052-057.pdf | 2,7 МБ | 8 сентября 2017 [Yaminsky] |