|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
DIPSCAN technology for determination of layers dips and azimuths in VSP methodтезисы доклада
- Авторы: Baev A.V., Tabakov A.A., Baranov K.V.
- Сборник: 69th EAGE-EAGO-SEG Conference and Exposition. Saint Petersburg
- Тезисы
- Год издания: 2006
- Место издания: Saint Petersburg
- Добавил в систему: Баев Андрей Владимирович