|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Структурное подавление блистерообразования на поверхности вольфрама при имплантации He+ с энергией 30 кэВстатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
- Авторы: Хисамов Р.Х., Андрианова Н.Н., Борисов А.М., Овчинников М.А., Мусабиров И.И., Тимиряев Р.Р., Мулюков Р.Р.
- Журнал: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
- Номер: 4
- Год издания: 2025
- Издательство: ФГБУ "Издательство "Наука"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 119
- Последняя страница: 126
- DOI: 10.31857/S1028096025040173
- Аннотация: Исследовано влияние ультрамелкозернистой структуры вольфрама и конусообразной морфологии поверхности образца на образование блистеров при облучении ионами He+ с энергией 30 кэВ. В сравнительных экспериментах использовали ультрамелкозернистые и мелкозернистые образцы со средним размером зерен, соответственно, 300 нм и 7 мкм, с гладкой и конусообразной морфологией поверхности. Образцы вольфрама с ультрамелкозернистой структурой получили с помощью интенсивной пластической деформации, конусообразную морфологию поверхности — путем высокодозного облучения ионами Ar+ с энергией 30 кэВ. Установлено, что блистеры при облучении ионами гелия с флуенсом 1018 ион/см2 образуются как на мелкозернистых, так и на ультрамелкозернистых образцах. На мелкозернистых образцах часть блистеров была с удаленными крышками, в то время как на ультрамелкозернистых образцах все блистеры были целыми. Толщина крышек, диаметр блистеров зависит от размера зерен. Обнаружено, что конусообразная морфология поверхности ультрамелкозернистого вольфрама подавляет образование блистеров.
- Добавил в систему: Овчинников Михаил Александрович
Прикрепленные файлы
| № | Имя | Описание | Имя файла | Размер | Добавлен |
|---|