|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
The application of the SEM in the study of soilsстатья
- Авторы: Sergeyev E.M., Spivak G.V., Osipov V.I., Rau E.I., Sokolov V.N., Filipp M.N.
- Журнал: Scanning microscopy
- Год издания: 1980
- Издательство: Scanning Microscopy International
- Местоположение издательства: Chicago Il, United States
- DOI: 10.1002/sca.4950030402
- Добавил в систему: Рау Эдуард Иванович