|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Механизмы отказов и надежность мощных СВЧ транзисторовстатья
- Авторы: Нечаев А.М., Рубаха Е.А., Синкевич В.Ф.
- Сборник: Обзоры по электронной технике, Сер.2 Полупроводниковые приборы
- Том: 10
- Год издания: 1978
- Первая страница: 1
- Последняя страница: 54
- Добавил в систему: Нечаев Андрей Мартэнович