Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
The Bayesian logistic regression in pattern recognition problems under concept drift
статья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science
,
Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 28 января 2015 г.
Авторы:
Turkov Pavel
,
Krasotkina Olga
,
Mottl Vadim
Сборник:
Pattern Recognition (ICPR), 2012 21st International Conference on
Год издания:
2012
Место издания:
IEEE
Первая страница:
2976
Последняя страница:
2979
Добавил в систему:
Красоткина Ольга Вячеславовна