PROBE RAMAN SPECTROSCOPY IN MONITORING THE ELECTRICAL DEGRADATION OF THIN-FILM CONDUCTORSстатья
Информация о цитировании статьи получена из
Web of Science,
Scopus
Статья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 6 февраля 2018 г.
Местоположение издательства:New York, NY, United States
Первая страница:1421
Последняя страница:1426
Аннотация:Probe Raman spectroscopy is used for the nondestructive monitoring of the electrical degradation of vacuum-deposited thin-film conductors on an amorphous glass substrate with high spatial resolution.