|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Атомно-силовая и сканирующая электронная микроскопия как метод оценки микропластической деформациистатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК- Авторы: Варавка В.Н., Кудряков О.В., Каримбеков М.А., Сапунов С.Ю., Моисеева И.В.
- Журнал: Технология металлов
- Номер: 10
- Год издания: 2012
- Первая страница: 52
- Последняя страница: 56
- Добавил в систему: Осадченко Николай Владимирович