|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Multiple cell upsets rate estimation for 65 nm SRAM bit-cell in space radiation environmentтезисы доклада
- Авторы: Chechenin Nikolay G., Muhammad Sajid
- Сборник: J Aeronaut Aerospace Eng. 3rd International Conference and Exhibition on Satellite & Space Missions
- Серия: CONFERENCESERIES.COM
- Том: 6
- Тезисы
- Год издания: 2017
- Место издания: J Aeronaut Aerospace Eng., Barselona
- Первая страница: 77
- Последняя страница: 77
- DOI: 10.4172/2168-9792-C1-017
- Добавил в систему: Чеченин Николай Гаврилович