|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Определение параметров ультратонкого кристаллического слоя бикристалла по данным зеркального отражения рентгеновских лучей в условиях скользящей дифракциитезисы доклада
- Авторы: Орешко А.П., Бушуев В.А.
- Сборник: Тезисы докладов IV Национальной конференции по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов
- Тезисы
- Год издания: 2003
- Место издания: г. Москва
- Первая страница: 263
- Последняя страница: 263
- Добавил в систему: Орешко Алексей Павлович