МАТЕМАТИЧЕСКИЕ И КОМПЬЮТЕРНЫЕ МЕТОДЫ АНАЛИЗА ФОТОИЗОБРАЖЕНИЙ

Артемьев, А.И.

Автор: Артемьев А.И.
Журнал: Успехи в химии и химической технологии
Том: 31
Номер: 5
Год издания: 2017
Издательство: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Российский химико-технологический университет им. Д.И. Менделеева"
Местоположение издательства: Москва
Первая страница: 73
Последняя страница: 75
Аннотация: С использованием комплекса программ «FRA_VA_T», реализующего фрактально – вейвлетный алгоритм анализа микрофотоизображений текстуры нанокмпозита, в процессе бинаризации исходных микрофотоизображений получены их фрактальные размерности. Анализа фрактальных размерностей позволил определить текстуры обоих образцов материала, отличающихся процентным содержанием полисульфона (10% и 20%). Определен, что более прочную и упорядоченную текстуру имеет образец с 20% содержанием полисульфона
Добавил в систему: Артемьев Артем Ильич

	ИСТИНА	Войти в систему Регистрация
	ИСТИНА ИНХС РАН
	Главная Поиск Статистика О проекте Помощь

ИСТИНА

ИСТИНА ИНХС РАН

МАТЕМАТИЧЕСКИЕ И КОМПЬЮТЕРНЫЕ МЕТОДЫ АНАЛИЗА ФОТОИЗОБРАЖЕНИЙстатья

Прикрепленные файлы