|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
EXAFS- и рентгеноэлектронная спектроскопия наноструктур полупроводников в матрицах пористого оксида алюминиястатья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАК- Авторы: Валеев Р.Г., Бельтюков А.Н., Кривенцов В.В.
- Журнал: Инженерная физика
- Год издания: 2016
- Первая страница: 4
- Последняя страница: 12
- Добавил в систему: Бельтюков Артемий Николаевич