|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Материаловедение. Методы исследования структуры и состава материаловкнига
- Автор: Суворов Э.В.
- Год издания: 2018
- Место издания: ЮРАЙТ Москва
- Объём: 180 страниц (13,97 печатных листов)
- ISBN: 978-5-534-06011-9
- Учебное пособие, имеющее гриф
- Исправленное и дополненное переиздание
- Аннотация: МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ: МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ И СОСТАВА МАТЕРИАЛОВ С конца прошлого столетия широкое распространение в целом ряде направлений новой техники получили принципиально новые материалы, такие как нанокристаллы, квазикристаллы, фуллерены, магнитные кристаллы с особыми свойствами, высокотемпературные сверхпроводящие керамики и монокристаллы, сегнетоэлектрики, сегнетоэластики, жидкие кристаллы, аморфные сплавы и пр. Изучение их структуры и свойств требует привлечения комплекса разнообразных физических методов исследования, взаимно дополняющих друг друга. Большинство известных в настоящее время экспериментальных методов исследования структуры материалов основано на взаимодействии излучений разной природы с исследуемыми материалами и последующим анализом картин рассеяния. Предлагаемая книга посвящена дифракционным методам исследования структуры и состава материалов. К сожалению, учебные пособия по этому направлению в отечественной литературе практически отсутствуют. Автор данной книги делает попытку восполнить этот пробел. Книга содержит четыре раздела. В первом разделе приведены наиболее важные сведения по физике дифракции ретгеновских лучей, нейтронов и электронов. Во втором - описаны основные методы рентгеновской дифракционной топографии, позволяющие исследовать реальную структуру кристаллов . Третий раздел посвящен описанию основ высокоразрешающей электронной микроскопии. Пятый раздел содержит материал по основам растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Главным достоинством книги является то, что в ней основное внимание уделяется физическим принципам, на которых основан каждый из описываемых методов. Данная дисциплина является теоретической базой для всех материаловедческих курсов и в этом смысле является профессионально ориентированной. Автор пособия проф., д.ф.м.н., гнс ИФТТ РАН Суворов Э.В. в течении многих лет читал различные варианты этой дисциплины в МИСиС на кафедре Физической химии, в настоящее время читает аналогичный курс в МГУ им. М.В.Ломоносова на ФАКУЛЬТЕТЕ ФУНДАМЕНТАЛЬНОЙ ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКОЙ ИНЖЕНЕРИИ, и в ИФТТ РАН для аспирантов. Суворов Э.В. является известным специалистом в области дифракции рентгеновского излучения на различных структурах, механизмов образования дифракционного изображения дефектов в кристаллах.
- Добавил в систему: Суворов Эрнест Витальевич