Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Анализ профиля поверхности методами атомно-силовой микроскопии
книга
Автор:
Иваненко И.П.
Год издания:
2018
Место издания:
Москва
Объём:
28 страниц
Учебно-методическая литература
Аннотация:
Описание задачи в твердотельном практикуме кафедры физической электроники
Добавил в систему:
Иваненко Илья Петрович