Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Физические принципы рентгенодифрактометрического определения параметров реальной структуры многослойных эпитаксиальных пленок
книга
Авторы:
Бушуев В.А.
,
Кютт Р.Н.
,
Хапачев Ю.П.
Год издания:
1996
Место издания:
КБГУ Нальчик
Объём:
179 страниц
Учебное пособие, имеющее гриф
Гриф УМО/НМС
Добавил в систему:
Бушуев Владимир Алексеевич