Место издания:Издание Общенациональной академии знаний г. Москва
Объём:
130 страниц
Аннотация:Наибольший интерес для физики поверхности, стимулируемый развитием современной микро- и оптоэлектроники, представляют ультратонкие поверхностные слои.
Существует широкий круг проблем, для решения которых весьма желательно увеличить поверхностную чувствительность таких традиционных неразрушающих методов исследования структуры, как рентгеновская и мессбауэровская дифракция и спектроскопия. Эту возможность предоставляет эффект полного внешнего отражения (ПВО), имеющий место при скользящих углах падения ретгеновского или мессбауэровского излучения на достаточно гладкую поверхность образца. В условиях ПВО резко уменьшается глубина проникновения излучения в среду. Взаимодействие рентгеновского и мессбауэровского излучений с образцом имеет существенные ососбенности, которые проявляются в форме угловых и спектральных зависимостей, а также специфических поляризационных особенностях отраженного сигнала. нетривиальные особенности претерпевает и выход вторичного излучения (например, фото или конверсионных электронов). Все эти вопросы получают систематическую разработку в рамках предлагаемого пособия.