Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Benoit Chalopin
Benoit Chalopin
IstinaResearcherID (IRID): 188531958
–

Статьи в журналах

    • 2019 Conduction mechanisms and voltage drop during field electron emission from diamond needles
    • Olivier Torresin, Mario Borz, Julien Mauchain, Ivan Blum, Kleshch Victor I., Obraztsov Alexander N., Angela Vella, Benoit Chalopin
    • в журнале Ultramicroscopy, издательство Elsevier BV (Netherlands), том 202, с. 51-56 DOI

ИСТИНА ИНХС РАН
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь