Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Morozov S.V.
Morozov S.V.
IstinaResearcherID (IRID): 26874078
–

Доклады на научных конференциях

    • 2018 Measurement of cerebral perfusion with arterial spin labelling in normocapnic and hypercapnic conditions (Стендовый)
    • Авторы: Sergeeva A.N., Seliverstova E.V., Morozova S., Kremneva E.I., Gadzhieva Z., Zabitova M., Akhmetzianov B., Dobryinina L., Krotenkova M.
    • ESR 2018, Вена, Австрия, 28 февраля - 4 марта 2018
    • 2016 A study of surface electron states in topological insulators (Bi1-xInx)2Se3 with the use of terahertz laser radiation (Устный)
    • Авторы: Galeeva A.V., Egorova S.G., Chernichkin V.I., Tamm M.E., Yashina L.V., Rumyantsev V.V., Morozov S.V., Plank H., Danilov S.N., Ryabova L.I., Khokhlov D.R.
    • 41st International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves, Копенгаген, Дания, 25-30 сентября 2016
    • 2016 Terahertz probing of surface electron states in topological insulators (Пленарный)
    • Авторы: Galeeva A.V., Egorova S.G., Chernichkin V.I., Tamm M.E., Yashina L.V., Rumyantsev V.V., Morozov S.V., Plank H., Danilov S.N., Ryabova L.I., Khokhlov D.R.
    • 8th International Conference on Materials Science and Condensed Matter Physics, Кишинев, Молдова, Республика, 12-16 сентября 2016

ИСТИНА ИНХС РАН
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь