Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
скрыть
Glagolev P.Y.
Соавторы:
Djuzhev N.A.
,
Демин Г.Д.
,
Gusev E.E.
,
Makhiboroda M.A.
,
Patyukov N.N.
,
Дедкова А.А.
,
Evsikov I.D.
,
Filippov N.A.
,
Nezhentsev A.V.
,
Ovodov A.I.
,
Дюжев Н.А.
,
Киреев В.Ю.
,
Лычев С.А.
5 статей
Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 0, Scopus: 2
IstinaResearcherID (IRID): 304818140
Деятельность
Статьи в журналах
2022
Peculiarities of deformation of round thin-film membranes and experimental determination of their effective characteristics
Dedkova A.A.
,
Glagolev P.Y.
,
Gusev E.E.
,
Djuzhev N.A.
,
Kireev V.Y.
,
Lychev S.A.
, Tovarnov D.A.
в журнале
Technical Physics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 92, № 13
DOI
2019
Comprehensive analysis of field-electron emission properties of nanosized silicon blade-type and needle-type field emitters
Demin G.D.
,
Djuzhev N.A.
,
Filippov N.A.
,
Glagolev P.Y.
,
Evsikov I.D.
,
Patyukov N.N.
в журнале
Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics
, том 37, № 2
Статьи в сборниках
2018
An impact of thermal electron energy on the field-electron emission from nanosized silicon tips
Djuzhev N.A.
,
Demin G.D.
,
Glagolev P.Y.
,
Makhiboroda M.A.
,
Patyukov N.N.
в сборнике
31st International Vacuum Nanoelectronics Conference
, место издания
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc
, с. 8520046
2018
Peculiarities of the influence of nanostructuring of [SiO2/Si3N4]n multilayer membranes on its thermal and mechanical properties
Glagolev P.Y.
,
Ovodov A.I.
,
Demin G.D.
,
Djuzhev N.A.
,
Nezhentsev A.V.
в сборнике
Proceedings of the 2018 IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering, ElConRus 2018
, с. 1984-1988
DOI
2017
Non-Contact Technique for Determining the Mechanical Stress in thin Films on Wafers by Profiler
Djuzhev N.A.
,
Dedkova A.A.
,
Gusev E.E.
,
Makhiboroda M.A.
,
Glagolev P.Y.
в сборнике
5TH INTERNATIONAL CONFERENCE: MODERN TECHNOLOGIES FOR NON-DESTRUCTIVE TESTING
, серия
IOP Conference Series-Materials Science and Engineering
, место издания
IOP PUBLISHING LTD [Djuzhev, N. A.] Natl Res Univ Elect Technol MIET, R&D Ctr MST & BEC, Moscow, Russia. [Dedkova, A. A.; Gusev, E. E.; Makhiboroda, M. A.; Glagolev, P. Y.] Natl Res Univ Elect Technol MIET, NMST, Moscow, Russia
, том 189
DOI