Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
скрыть
Baubekova G.
Соавторы:
Akilbekov A.
,
Lushchik A.
,
Здоровец М.
,
Попов (Popov) А.И.
,
Shablonin E.
,
Feldbach E.
,
Grants R.
,
Kotomin E.A.
,
Kuzovkov V.N.
,
Manika I.
,
Schwartz K.
,
Vasil'chenko E.
3 статьи
Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 24, Scopus: 28
IstinaResearcherID (IRID): 305889394
Деятельность
Статьи в журналах
2020
About complexity of the 2.16-eV absorption band in MgO crystals irradiated with swift Xe ions
Baubekova G.
,
Akilbekov A.
,
Popov A.I.
,
Shablonin E.
, Vasilchenko E.,
Zdorovets M.
,
Lushchik A.
в журнале
Radiation Measurements
, издательство
Pergamon Press Ltd.
(United Kingdom)
, том 135, с. 106379
DOI
2020
Accumulation of radiation defects and modification of micromechanical properties under MgO crystal irradiation with swift 132Xe ions
Baubekova G.
,
Akilbekov A.
,
Feldbach E.
,
Grants R.
,
Manika I.
,
Popov A.I.
,
Schwartz K.
, Vasil'chenko E.,
Zdorovets M.
,
Lushchik A.
в журнале
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 463, с. 50-54
DOI
2020
Thermal annealing of radiation damage produced by swift 132Xe ions in MgO single crystals
Baubekova G.
,
Akilbekov A.
,
Kotomin E.A.
,
Kuzovkov V.N.
,
Popov A.I.
,
Shablonin E.
,
Vasil'chenko E.
,
Zdorovets M.
,
Lushchik A.
в журнале
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
, издательство
Elsevier BV
(Netherlands)
, том 462, с. 163-168
DOI