Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
скрыть
Shpetnyi Ihor
Соавторы:
Hashim H.
,
Podgornaya S.V.
,
Singh S.P.
,
Беклямишева А.
,
Панина Л.В.
,
Пудонин Ф.А.
1 статья
Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 2, Scopus: 3
IstinaResearcherID (IRID): 322000428
Деятельность
Статьи в журналах
2017
Spectral ellipsometry as a method for characterization of nanosized films with ferromagnetic layers
Hashim H.
,
Singkh S.P.
,
Panina L.V.
,
Pudonin F.A.
, Sherstnev I.A.,
Podgornaya S.V.
,
Shpetnyi I.A.
,
Beklemisheva A.V.
в журнале
Physics of the Solid State
, издательство
Pleiades Publishing, Ltd
(Road Town, United Kingdom)
, том 59, № 11, с. 2211-2215
DOI