Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
скрыть
Ioffe L.B.
Соавторы:
Astafiev O.V.
,
Carbillet C.
,
Cherkez V.
,
Cohen O.
,
Cren T.
,
Debontridder F.
,
Feigel’man M.V.
,
Ilin K.
,
Kafanov S.
,
Pashkin Y.A.
,
Shahar D.
,
Siegel M.
,
Tsai J.S.
показать полностью...
,
Арутюнов К.Ю.
,
Родичев Д.Ю.
,
Столяров В.С.
,
Чигарева И.А.
2 статьи
,
1 доклад на конференции
Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 183, Scopus: 201
IstinaResearcherID (IRID): 413351
Деятельность
Статьи в журналах
2020
Spectroscopic evidence for strong correlations between local superconducting gap and local Altshuler-Aronov density of states suppression in ultrathin NbN films
Carbillet C.
,
Cherkez V.
, Skvortsov M.A.,
Feigel'man M.V.
,
Debontridder F.
,
Ioffe L.B.
,
Stolyarov V.S.
,
Ilin K.
,
Siegel M.
, Noûs C.,
Roditchev D.
,
Cren T.
,
Brun C.
в журнале
Physical Review B
, издательство
American Physical Society
(United States)
, том 102, № 024504, с. 024504 -1-024504 -10
DOI
2012
Coherent quantum phase slip
Astafiev O.V.
,
Ioffe L.B.
,
Kafanov S.
,
Pashkin Yu A.
,
Arutyunov Yu K.
,
Shahar D.
,
Cohen O.
,
Tsai J.S.
в журнале
Nature
, издательство
Nature Publishing Group
(United Kingdom)
, том 484, № 7394, с. 355-358
DOI
Доклады на конференциях
2016
Superconductivity and Coherent Proximity Phenomena in Pb/Si(111) atomic monolayers: A STM study
(Устный)
Авторы:
Tristan Cren
,
Brun C.
,
Serrier-Garcia L.
,
Pons S.
,
Stolyarov V.
,
Roditchev and D.
,
Debontridder F.
,
Ioffe L.
,
Altshuiler B.
,
Cuevas J.C.
,
Cherkez V.
Superconducting hybrid nanostructures: physics and application
, Москва, Россия, 19-23 сентября 2016