–
Доклады на научных конференциях
-
- 2017 Diagnostics of Synchrotron and XFEL intense focused beams with use of LiF crystal imaging technique (Устный)
- Авторы: Albertazzi B., Inubushi Yu, Yabashi M., Tono K., Sato Yu, Yumoto H., Makarov S.S., Ryazantsev S.N., Faenov A.Ya, Pikuz T.A., Grum-Grzhimailo A.N., Rose M., Senkbeil T., von Gundlach Andreas, Stuhr S., Rumancev Ch, Dzhigaev D., Skopintsev P., Lazarev S., Zaluzhnyy I., Viefhaus J., Rosenhahn A., Vartaniants I., Matsuoka T., Matsuyama S., Yamauchi K., Ozaki N., Ohashi H., Nishikino M., Kawachi T., Ishikawa T., Kodama R., Pikuz S.A.
- European XFEL Users' Meeting 2017 and DESY Photon Science Users' Meeting 2017, DESY Hamburg and European XFEL, Schenefeld, Germany, Германия, 25-27 января 2017