ИСТИНА

Орликовский Николай Александрович

Соавторы: Рау Э.И., Гостев А.В., Сеннов Р.А., Дицман С.А., Евстафьева, Ежов А.А., Охлопков К.И., Татаринцев А.А., Федянин А.А., Шафирин П.А., Щербаков М.Р., Мяконьких А.В., Руденко К.В. показать полностью..., Кошев Н.А., Лукьянов Ф.А., Озерова К.Е., Орликовская Н.Г., Рогожин А.Е., Шахова Я.Э., Шорохов А.С.

5 статей, 5 докладов на конференциях, 10 тезисов докладов, 1 НИР

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 6, Scopus: 10

IstinaResearcherID (IRID): 47835294

Деятельность

• Статьи в журналах

  • • 2022 Метод регистрации потенциала зарядки диэлектриков при ионном облучении по сдвигу границы тормозного рентгеновского спектра
    • Татаринцев А.А., Орликовский Н.А., Орликовская Н.Г., Озерова К.Е., Шахова Я.Э.
    • в журнале Журнал технической физики, издательство Наука. С.-Петерб. отд-ние (СПб.), том 92, № 9, с. 1467-1470 DOI
  • 
    • 2019 Optical coupling between resonant dielectric nanoparticles and dielectric nanowires probed by third harmonic generation microscopy
    • Okhlopkov K.I., Shafirin P.A., Ezhov A.A., Orlikovsky N.A., Shcherbakov M.R., Fedyanin A.A.
    • в журнале ACS Photonics, издательство American Chemical Society (United States), том 6, № 1, с. 189-195 DOI
  • 
    • 2018 Investigation of the Process of Open Plasma-Chemical Etching of HkMG Stack Nanoscale Transistor with a 32-nm Critical Dimension
    • Myakonkikh A.V., Kuvaev K.Yu, Tatarintsev A.A., Orlikovskii N.A., Rudenko K.V., Guschin O.P., Gornev E.S.
    • в журнале Russian Microelectronics, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 47, № 5, с. 325-333 DOI
  • 
    • 2018 Optical coupling between resonant dielectric nanoparticles and dielectric waveguides probed by third harmonic generation microscopy
    • Okhlopkov K.I., Ezhov A.A., Shafirin P.A., Shorokhov A.S., Orlikovsky N.A., Shcherbakov M.R., Fedyanin A.A.
    • в журнале Journal of Physics: Conference Series, издательство IOP Publishing ([Bristol, UK], England), том 1092, № 1, с. 012104 DOI
  • • 2018 Зависимость стойкости негативного электронного резиста HSQ от дозы облучения в процессе плазмохимического и химического травления
    • Мяконьких А.В., Орликовский Н.А., Рогожин А.Е., Татаринцев А.А., Руденко К.В.
    • в журнале Микроэлектроника, издательство Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука (Москва), том 47, № 3, с. 179-186 DOI

• Доклады на конференциях

  • • 2019 Исследование оптической связи Ми-резонансной кремниевой наночастицы с волноводом методом микроскопии генерации третьей гармоники (Стендовый)
    • Авторы: Охлопков К.И., Шафирин П.А., Ежов А.А., Орликовский Н.А., Щербаков М.Р., Федянин А.А.
    • 2-я Российская школа по квантовым технологиям, Сочи, Красная поляна, Россия, 2-7 марта 2019
  • • 2018 Optical coupling between resonant dielectric nanoparticles and dielectric waveguides probed by third harmonic generation microscopy (Устный)
    • Авторы: Fedyanin A.A., Shcherbakov M.R., Orlikovsky N.A., Shafirin P.A., Okhlopkov K.I., Ezhov A.A.
    • METANANO 2018, Сочи, Россия, 16-21 сентября 2018
  • • 2018 Optical coupling between dielectric Mie{resonant nanodisks and waveguides probed by third harmonic generation microscopy (Устный)
    • Авторы: Shafirin P.A., Orlikovsky N.A., Okhlopkov K.I., Ezhov A.A., Shcherbakov M.R., Fedyanin A.A.
    • Days on Diffraction 2018, Санкт-Петербург, Россия, 4-8 июня 2018
  • • 2018 Optical coupling of a Mie-resonant silicon nanoparticle to a waveguide revealed by third harmonic generation spectroscopy (Стендовый)
    • Авторы: Okhlopkov K.I., Ezhov A.A., Shafirin P.A., Orlikovsky N.A., Shcherbakov M.R., Fedyanin A.A.
    • Doctoral Summer School on Nanophotonics and Metamaterials, Saint Petersburg, Россия, 28 мая - 1 июня 2018
  • • 2018 Optical coupling of a Mie-resonant silicon nanoparticle to a waveguide revealed by third harmonic generation spectroscopy (Стендовый)
    • Авторы: Okhlopkov K.I., Ezhov A.A., Shafirin P.A., Orlikovsky N.A., Shcherbakov M.R., Fedyanin A.A.
    • SPIE Photonics Europe 2018, Strasbourg, France, Франция, 22-26 апреля 2018

• Тезисы докладов

  • • 2018 Optical coupling between dielectric Mie-resonant nanodisks and waveguides probed by third harmonic generation microscopy
    • Okhlopkov K.I., Ezhov A.A., Shafirin P.A., Orlikovsky N.A., Shcherbakov M.R., Fedyanin A.A.
    • в сборнике International conference “Days on diffraction 2018”, June 4-8, 2018, Saint Petersburg, Russia, Abstracts, тезисы, с. 192
  • • 2012 Аппаратная функция тороидального спектрометра РЭМ и её влияние на спектры детектируемых электронов
    • Гостев А.В., Кошев Н.А., Орликовский Н.А., Рау Э.И.
    • в сборнике XXIV Российская конференция по электронной микроскопии. Тезисы докладов, место издания Черноголовка, тезисы, с. 177
  • • 2011 Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 43
  • • 2011 Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 43
  • • 2011 Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 43
  • • 2011 Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 43
  • • 2011 Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Евстафьева Е.Н., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 43
  • • 2011 О контрасте изображений в режиме отраженных электронов в РЭМ
    • Орликовский Н.А., Рау Э.И.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 60
  • • 2011 Угловые характеристики средней энергии отраженных электронов для массивных и пленочных мишеней
    • Гостев А.В., Дицман С.А., Орликовский Н.А., Рау Э.И., Сеннов Р.А.
    • в сборнике Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, место издания Черноголовка, тезисы, с. 42
  • • 2009 Combined electron-beam method of the diagnostic of 3D-microelectronic structures in scanning electron microscopy
    • Lukyanov F.A., Orlikovsky N.A., Rau E.I., Sennov R.A.
    • в сборнике International Conference Micro- and nanoelectronics 2009 (ICMNE-2009) , October 5-9, 2009, Zvenigorod, Moscow region, Abstracts, тезисы, с. O3-19

• НИРы

  • • 1 мая 2016 - 31 декабря 2018 Создание источников и приемников терагерцового излучения на основе низкоразмерных пролетных диодов для контроля объектов
    • Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технологический институт Российской академии наук
    • Руководитель: Руденко К.В. Участники НИР: Вьюрков В.В., Давыдов Ф.С., Мяконьких А.В., Орликовский Н.А., Рогожин А.Е., Руденко К.В., Руденко М.К., Солянкин П.М.