Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
В связи с техническими работами в центре обработки данных, часть прикреплённых файлов в настоящее время недоступна.
скрыть
Орликовский Николай Александрович
Соавторы:
Рау Э.И.
,
Гостев А.В.
,
Сеннов Р.А.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева
,
Ежов А.А.
,
Охлопков К.И.
,
Татаринцев А.А.
,
Федянин А.А.
,
Шафирин П.А.
,
Щербаков М.Р.
,
Мяконьких А.В.
,
Руденко К.В.
показать полностью...
,
Кошев Н.А.
,
Лукьянов Ф.А.
,
Озерова К.Е.
,
Орликовская Н.Г.
,
Рогожин А.Е.
,
Шахова Я.Э.
,
Шорохов А.С.
5 статей
,
5 докладов на конференциях
,
10 тезисов докладов
,
1 НИР
Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 6, Scopus: 10
IstinaResearcherID (IRID): 47835294
Деятельность
Статьи в журналах
2022
Метод регистрации потенциала зарядки диэлектриков при ионном облучении по сдвигу границы тормозного рентгеновского спектра
Татаринцев А.А.
,
Орликовский Н.А.
,
Орликовская Н.Г.
,
Озерова К.Е.
,
Шахова Я.Э.
в журнале
Журнал технической физики
, издательство
Наука. С.-Петерб. отд-ние
(СПб.)
, том 92, № 9, с. 1467-1470
DOI
2019
Optical coupling between resonant dielectric nanoparticles and dielectric nanowires probed by third harmonic generation microscopy
Okhlopkov K.I.
,
Shafirin P.A.
,
Ezhov A.A.
,
Orlikovsky N.A.
,
Shcherbakov M.R.
,
Fedyanin A.A.
в журнале
ACS Photonics
, издательство
American Chemical Society
(United States)
, том 6, № 1, с. 189-195
DOI
2018
Investigation of the Process of Open Plasma-Chemical Etching of HkMG Stack Nanoscale Transistor with a 32-nm Critical Dimension
Myakonkikh A.V.
, Kuvaev K.Yu,
Tatarintsev A.A.
,
Orlikovskii N.A.
,
Rudenko K.V.
, Guschin O.P., Gornev E.S.
в журнале
Russian Microelectronics
, издательство
Maik Nauka/Interperiodica Publishing
(Russian Federation)
, том 47, № 5, с. 325-333
DOI
2018
Optical coupling between resonant dielectric nanoparticles and dielectric waveguides probed by third harmonic generation microscopy
Okhlopkov K.I.
,
Ezhov A.A.
,
Shafirin P.A.
,
Shorokhov A.S.
,
Orlikovsky N.A.
,
Shcherbakov M.R.
,
Fedyanin A.A.
в журнале
Journal of Physics: Conference Series
, издательство
IOP Publishing
([Bristol, UK], England)
, том 1092, № 1, с. 012104
DOI
2018
Зависимость стойкости негативного электронного резиста HSQ от дозы облучения в процессе плазмохимического и химического травления
Мяконьких А.В.
,
Орликовский Н.А.
,
Рогожин А.Е.
,
Татаринцев А.А.
,
Руденко К.В.
в журнале
Микроэлектроника
, издательство
Общество с ограниченной ответственностью Интеграция: Образование и Наука
(Москва)
, том 47, № 3, с. 179-186
DOI
Доклады на конференциях
2019
Исследование оптической связи Ми-резонансной кремниевой наночастицы с волноводом методом микроскопии генерации третьей гармоники
(Стендовый)
Авторы:
Охлопков К.И.
,
Шафирин П.А.
,
Ежов А.А.
,
Орликовский Н.А.
,
Щербаков М.Р.
,
Федянин А.А.
2-я Российская школа по квантовым технологиям
, Сочи, Красная поляна, Россия, 2-7 марта 2019
2018
Optical coupling between resonant dielectric nanoparticles and dielectric waveguides probed by third harmonic generation microscopy
(Устный)
Авторы:
Fedyanin A.A.
,
Shcherbakov M.R.
,
Orlikovsky N.A.
,
Shafirin P.A.
,
Okhlopkov K.I.
,
Ezhov A.A.
METANANO 2018
, Сочи, Россия, 16-21 сентября 2018
2018
Optical coupling between dielectric Mie{resonant nanodisks and waveguides probed by third harmonic generation microscopy
(Устный)
Авторы:
Shafirin P.A.
,
Orlikovsky N.A.
,
Okhlopkov K.I.
,
Ezhov A.A.
,
Shcherbakov M.R.
,
Fedyanin A.A.
Days on Diffraction 2018
, Санкт-Петербург, Россия, 4-8 июня 2018
2018
Optical coupling of a Mie-resonant silicon nanoparticle to a waveguide revealed by third harmonic generation spectroscopy
(Стендовый)
Авторы:
Okhlopkov K.I.
,
Ezhov A.A.
,
Shafirin P.A.
,
Orlikovsky N.A.
,
Shcherbakov M.R.
,
Fedyanin A.A.
Doctoral Summer School on Nanophotonics and Metamaterials
, Saint Petersburg, Россия, 28 мая - 1 июня 2018
2018
Optical coupling of a Mie-resonant silicon nanoparticle to a waveguide revealed by third harmonic generation spectroscopy
(Стендовый)
Авторы:
Okhlopkov K.I.
,
Ezhov A.A.
,
Shafirin P.A.
,
Orlikovsky N.A.
,
Shcherbakov M.R.
,
Fedyanin A.A.
SPIE Photonics Europe 2018
, Strasbourg, France, Франция, 22-26 апреля 2018
Тезисы докладов
2018
Optical coupling between dielectric Mie-resonant nanodisks and waveguides probed by third harmonic generation microscopy
Okhlopkov K.I.
,
Ezhov A.A.
,
Shafirin P.A.
,
Orlikovsky N.A.
,
Shcherbakov M.R.
,
Fedyanin A.A.
в сборнике
International conference “Days on diffraction 2018”, June 4-8, 2018, Saint Petersburg, Russia, Abstracts
, тезисы, с. 192
2012
Аппаратная функция тороидального спектрометра РЭМ и её влияние на спектры детектируемых электронов
Гостев А.В.
,
Кошев Н.А.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
в сборнике
XXIV Российская конференция по электронной микроскопии. Тезисы докладов
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 177
2011
Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 43
2011
Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 43
2011
Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 43
2011
Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 43
2011
Измерение толщин нанопленочных покрытий по спектрам отраженных электронов в РЭМ
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 43
2011
О контрасте изображений в режиме отраженных электронов в РЭМ
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 60
2011
Угловые характеристики средней энергии отраженных электронов для массивных и пленочных мишеней
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 42
2009
Combined electron-beam method of the diagnostic of 3D-microelectronic structures in scanning electron microscopy
Lukyanov F.A.
,
Orlikovsky N.A.
,
Rau E.I.
,
Sennov R.A.
в сборнике
International Conference Micro- and nanoelectronics 2009 (ICMNE-2009) , October 5-9, 2009, Zvenigorod, Moscow region, Abstracts
, тезисы, с. O3-19
НИРы
1 мая 2016 - 31 декабря 2018
Создание источников и приемников терагерцового излучения на основе низкоразмерных пролетных диодов для контроля объектов
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технологический институт Российской академии наук
Руководитель:
Руденко К.В.
Участники НИР:
Вьюрков В.В.
,
Давыдов Ф.С.
,
Мяконьких А.В.
,
Орликовский Н.А.
,
Рогожин А.Е.
,
Руденко К.В.
,
Руденко М.К.
,
Солянкин П.М.