Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Гостев А.В.
Соавторы:
Рау Э.И.
,
Татаринцев А.А.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Дицман С.А.
,
Евстафьева
,
Зайцев С.В.
,
Купреенко С.Ю.
,
Орликовский Н.А.
,
Орликовский Н.А.
,
Сеннов Р.А.
,
Тагаченков А.М.
,
Толстов И.О.
,
Трубицын А.В.
1 статья
,
4 доклада на конференциях
,
5 тезисов докладов
,
1 диссертация
IstinaResearcherID (IRID): 5393283
Деятельность
Статьи в журналах
2014
Характеристики зарядки диэлектрических пленок в зависимости от толщины при электронном облучении
Гостев А.В.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Рау Э.И.
,
Тагаченков А.М.
,
Татаринцев А.А.
в журнале
Известия Российской академии наук. Серия физическая
, том 78, № 9, с. 1071-1076
Доклады на конференциях
2015
Новые возможности и перспективы методов электронной спектроскопии в сканирующем электронном микроскопе.
(Устный)
Авторы:
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Зайцев С.В.
,
Купреенко С.Ю.
,
Татаринцев А.А.
,
Толстов И.О.
,
Рау Э.И.
XIX Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ - 2015) и 3-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов"
, г. Черноголовка Московской обл., Россия, 1-5 июня 2015
2014
«Определение энергии облучающих электронов, не приводящей к зарядке диэлектрических мишеней»
Авторы:
Гостев А.В.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Рау Э.И.
,
Татаринцев А.А.
XXV Российская конференция по электронной микроскопии
, Черноголовка, Россия, 10 мая - 5 июня 2014
2014
Определение энергии облучающих электронов, не приводящей к зарядке диэлектрических мишеней.
Авторы:
Гостев А.В.
, Евстафьева Е.Н.,
Рау Э.И.
,
Татаринцев А.А.
XXV Российская конференция по электронной микроскопии
, Черноголовка, Россия, 10 мая - 5 июня 2014
2013
«Возможные причины противоречий в определении некоторых параметров зарядки диэлектрических мишеней»
Авторы:
Гостев А.В.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Рау Э.И.
,
Татаринцев А.А.
XVIII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим метолам исследования твердых тел
, Московская область, г. Черноголовка, 2013
Тезисы докладов
2015
Новые возможности и перспективы методов электронной спектроскопии в сканирующем электронном микроскопе
Рау Э.И.
,
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Зайцев С.В.
,
Купреенко С.Ю.
,
Татаринцев А.А.
,
Толстов И.О.
в сборнике
XIX Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел . Тезисы докладов
, тезисы, с. 94-95
2014
Определение энергии облучающих электронов, не приводящих к зарядке диэлектрических мишеней
Гостев А.В.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Рау Э.И.
,
Татаринцев А.А.
в сборнике
XXIV Российская конференция по электронной микроскопии
, тезисы, с. 232-233
2013
Возможные причины противоречий в определении некоторых параметров зарядки диэлектрических мишеней
Гостев А.В.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Рау Э.И.
,
Татаринцев А.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVIII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. Черноголовка. 03-06.06.2013
, место издания
ИПТМ РАН Черноголовка
, тезисы, с. 88
2011
Угловые характеристики средней энергии отраженных электронов для массивных и пленочных мишеней
Гостев А.В.
,
Дицман С.А.
,
Орликовский Н.А.
,
Рау Э.И.
,
Сеннов Р.А.
в сборнике
Тезисы докладов XVII Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
, место издания
Черноголовка
, тезисы, с. 42
2011
Электронно-зондовый томографический комплекс на базе РЭМ для диагностики микро- и наноструктур
Рау Э.И.
,
Гостев А.В.
,
Евстафьева Е.Н.
,
Орликовский Н.А.
,
Татаринцев А.А.
,
Трубицын А.В.
в сборнике
Фундаментальные и прикладные исследования, разработка и применение высоких технологий в промышленности и экономике
, тезисы, с. 285
Диссертация
1987
Исследование приповерхностных слоев структур микроэлектроники методами растровой электронной микроскопии
Кандидатская диссертация по специальности 01.04.04 - Физическая электроника (физ.-мат. науки)
Автор:
Гостев Александр Владимирович
Научный руководитель:
Рау Э.И.
, д.ф.-м.н., проф., МГУ имени М.В. Ломоносова
Защищена в совете
К053.05.22
при МГУ имени М.В. Ломоносова