–
Статьи в журналах
-
- 2000 The relentless march of the MOSFET gate oxide thickness to zero
- Timp G., Bude J., Baumann F., Bourdelle K.K., Boone T., Garno J., Ghetti A., Green M., Gossmann H., Kim Y., Kleiman R., Kornblit A., Klemens F., Moccio S., Muller D., Rosamilia J., Silverman P., Sorsch T., Timp W., Tennant D., Tung R., Weir B.
- в журнале Microelectronics and Reliability, издательство Elsevier BV (Netherlands), том 40, № 4-5, с. 557-562 DOI
Статьи в сборниках
-
- 1999 The ballistic nano-transistor
- Timp G., Bude J., Bourdelle K.K., Garno J., Ghetti A., Gossmann H., Green M., Forsyth G., Kim Y., Kleiman R., Klemens F., Kornblit A., Lochstampfor C., Mansfield W., Moccio S., Sorsch T., Tennant D.M., Timp W., Tung R.
- в сборнике International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318), место издания IEEE DOI