ИСТИНА

Янусова Л.Г.

Соавторы: Щедрин Б.М., Астафьев С.Б., Astaf’ev S.B., Ковальчук М.В., Коновалов О.В., Степина Н.Д., Терещенко Е.Ю., Godovsky Y.K., Jeu de_ W.H., Myagkov I.V., Novikova N.N., Ostrovskii B.I., Sulyanov S. показать полностью..., Zheludeva S.I., Бойко Н.И., Гайнутдинов Р.В., Годовский Ю.К., Ерко А., Желудева С.И., Копорулина Е.В., Лидер В.В., Лопина О.Д., Макарова Н.Н., Макарова Н.Н., Мягков И.В., Новикова Н.Н., Рубцов А.М., Толстихина А.Л., Шибаев В.П., Юрьева Э.А.

18 статей, 4 доклада на конференциях, 3 тезисов докладов

Количество цитирований статей в журналах по данным Web of Science: 53, Scopus: 54

IstinaResearcherID (IRID): 712139

Деятельность

• Статьи в журналах

  • 
    • 2017 Application of time–frequency wavelet analysis in the reflectometry of thin films
    • Astaf’ev S.B., Shchedrin B.M., Yanusova L.G.
    • в журнале Crystallography Reports, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 62, № 2, с. 318-323
  • • 2017 Применение частотно-временного вейвлет-анализа в рефлектометрии тонких пленок
    • Астафьев С.Б., Щедрин Б.М., Янусова Л.Г.
    • в журнале Кристаллография, издательство ФГУП Издательство «Наука» (Москва), том 62, № 2, с. 311-316
  • 
    • 2014 Mathematical methods and the BARD software package for thin-film reflectometry
    • Astaf'ev S.B., Shchedrin B.M., Yanusova L.G.
    • в журнале Computational and Mathematical Modeling, том 25, № 4, с. 500-513 DOI
  • 
    • 2013 Electrochemical polarization effect on surface composition, electrochemical characteristics and adsorption properties of pyrite, arsenopyrite and chalcopyrite during flotation
    • Mатвеева T.N., Chanturia V.A., Gromova N.K., Lantsova L.B., Koporulina E.V.
    • в журнале Journal of Mining Science, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 49, № 4, с. 637-646 DOI
  • 
    • 2013 Order and frustration in liquid-crystalline dendrimers
    • Ostrovskii B.I., Sulyanov S.N., Boiko N.A., Shibaev V.P., Astaf’ev S.B., Yanusova L.G., Jeu de_ W.H.
    • в журнале European Physical Journal E, издательство Springer Verlag (Germany), том 36, № 11, с. 134 DOI
  • 
    • 2013 Two-dimensional sections of the objective function as additional opportunities for reconstructing the density profile in reflectometry
    • Astaf'ev S.B., Shchedrin B.M., Yanusova L.G.
    • в журнале Crystallography Reports, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 58, № 2, с. 333-337
  • • 2013 Двумерные сечения целевой функции – дополнительные возможности при восстановлении профиля плотности в рефлектометрии
    • Астафьев С.Б., Щедрин Б.М., Янусова Л.Г.
    • в журнале Кристаллография, издательство ФГУП Издательство «Наука» (Москва), том 58, № 2, с. 316-320
  • 
    • 2012 Basic analysis of reflectometry data software package for the analysis of multilayered structures according to reflectometry data
    • Astaf'ev S.B., Shchedrin B.M., Yanusova L.G.
    • в журнале Crystallography Reports, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 57, № 1, с. 134-143
  • • 2012 Программный комплекс BARD для анализа строения многослойных структур по данным рефлектометрии
    • Астафьев С.Б., Щедрин Б.М., Янусова Л.Г.
    • в журнале Кристаллография, издательство ФГУП Издательство «Наука» (Москва), том 57, № 1, с. 141-150
  • • 2010 Оценка характерных параметров модели многоатомной пленки с использованием дифференциальной функции Патерсона
    • Астафьев С.Б., Янусова Л.Г., Щедрин Б.М.
    • в журнале Кристаллография, издательство ФГУП Издательство «Наука» (Москва), том 55, № 1, с. 134-142
  • 
    • 2006 Invariants of reflectometry curves and the features of thin films
    • Astaf'ev S., Yanusova L., Shchedrin B.M.
    • в журнале Crystallography Reports, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 51, № 1, с. 110-115
  • 
    • 2006 The inverse problem of estimating the film structure from x-ray reflection data
    • Astaf'ev S.B., Yanusova L.G., Shchedrin B.M.
    • в журнале Computational Mathematics and Modeling, издательство Consultants Bureau (United States), том 17, № 3, с. 203-210
  • • 2005 Решение обратной задачи восстановления строения пленки по рефлектометрическим данным
    • Астафьев С.Б., Янусова Л.Г., Щедрин Б.М.
    • в журнале Прикладная математика и информатика, том 21, с. 19-29
  • • 2004 Сглаживание кривой интенсивности рассеяния для улучшения сходимости метода сближения расчетной и экспериментальных кривых
    • Астафьев С.Б., ЯнусоваЛ Г., Щедрин Б.М.
    • в журнале Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, издательство Федеральное государственное унитарное предприятие "Академический научно-издательский, производственно-полиграфический и книгораспространительский центр Российской академии наук "Издательство "Наука" (Москва), № 10, с. 39-45
  • 
    • 2003 Total reflection X-ray fluorescence study of Langmuir monolayers on water surface
    • Novikova N.N., Zheludeva S.I., Konovalov O.V., Kovalchuk M.V., Stepina N.D., Myagkov I.V., Godovsky Y.K., Makarova N.N., Tereschenko E.Y., Yanusova L.G.
    • в журнале Journal of Applied Crystallography, издательство Blackwell Publishing Inc. (United Kingdom), том 36, с. 727-731 DOI
  • • 2003 Возможности рентгеновской флуоресценции в области полного внешнего отражения для исследования ленгмюровских монослоев на поверхности жидкости и твердой подложке
    • Желудева С.И., Новикова Н.Н., Коновалов О.В., Ковальчук М.В., Степина Н.Д., Юрьева Э.А., Мягков И.В., Годовский Ю.К., Макарова Н.Н., Рубцов А.М., Лопина О.Д., Ерко А.И., Толстихина А.Л., Гайнутдинов Р.В., Лидер В.В., Терещенко Е.Ю., Янусова Л.Г.
    • в журнале Кристаллография, издательство ФГУП Издательство «Наука» (Москва), том 48, № 6, с. 30-42
  • • 2003 Восстановление структуры тонких многослойных пленок по данным рефлектометрии при помощи поэтапного уточнения модели
    • Щедрин Б.М., Янусова Л.Г.
    • в журнале Кристаллография, издательство ФГУП Издательство «Наука» (Москва), том 48, № 4, с. 743-751

• Статьи в сборниках

  • • 2013 Математический аппарат и программный комплекс BARD для решения задач рефлектометрии тонких пленок
    • Астафьев С.Б., Щедрин Б.М., Янусова Л.Г.
    • в сборнике Прикладная математика и информатика, место издания МАКС Пресс M.:, том 44, с. 66-83

• Доклады на конференциях

  • • 2019 Structural features the layers of macroheterocyclic compounds of porphyrin type onthe surface of water (Устный)
    • Авторы: Astaf'ev S.B., Yanusova L.G., Shchedrin B.M.
    • ХII ежегодное заседание Научного Совета РАН по физике конденсированных сред, Москва, Россия, 29-30 октября 2019
  • • 2018 Специфика вейвлет-анализа в рентгеновской рефлектометрии тонких пленок для выявления пространственных особенностей электронной плотности. (Стендовый)
    • Авторы: Астафьев С.Б., Янусова Л.Г., Щедрин Б.М.
    • Школа ФКС-2018., Санкт-Петербург, Россия, 12-18 марта 2018
  • • 2016 Вейвлет-анализ в рентгеновской рефлектометрии для определения порядка расположения слоев в пленках (Стендовый)
    • Авторы: Астафьев С.Б., Янусова Л.Г., Щедрин Б.М.
    • Первый Российский кристаллографический конгресс, Москва, Россия, 21-26 ноября 2016
  • • 2012 Разработка математического аппарата для рефлектометрии тонких пленок (Устный)
    • Авторы: Астафьев С.Б., Янусова Л.Г., Щедрин Б.М.
    • Ломоносовские чтения - 2012, Москва, МГУ имени М.В.Ломоносова, Россия, 17 апреля 2012 - 19 апреля 2016

• Тезисы докладов

  • • 2019 Structural features the layers of macroheterocyclic compounds of porphyrin type onthe surface of water
    • Astaf'ev S.B., Yanusova L.G., Shchedrin B.M.
    • в сборнике Труды двенадцатого ежегодного заседания Научного Совета РАН по физике конденсированных сред и научно-практического семинара «Актуальные проблемы физики конденсированных сред», место издания Москва, тезисы, с. 34-34
  • • 2018 Специфика вейвлет-анализа в рентгеновской рефлектометрии тонких пленок для выявления пространственных особенностей электронной плотности
    • Астафьев С.Б., Щедрин Б.М., Янусова Л.Г.
    • в сборнике LI I Школа ПИЯФ и молодежная конференция по физике конденсированного состояния, место издания ПИЯФ Санкт-Петербург, тезисы, с. 72-72
  • • 2016 Вейвлет-анализ в рентгеновской рефлектометрии для определения порядка расположения слоев в пленках
    • Астафьев С.Б., Щедрин Б.М., Янусова Л.Г.
    • в сборнике От конвергенции наук к природоподобным технологиям, место издания НТ-Принт СПб, том 1, тезисы, с. 151-151