|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твёрдых тел (РЭМ-2011)сборник
- Год издания: 2011
- Издательство: Российская академия наук
- Местоположение издательства: Москва
- Сборник тезисов
- Добавил в систему: Лапшин Ростислав Владимирович
Статьи, опубликованные в сборнике
-
- 2011 Распределённая калибровка сканера зондового микроскопа в нанометровом диапазоне
- Лапшин Р.В.
- в сборнике XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твёрдых тел (РЭМ-2011), издательство Российская академия наук (Москва), тезисы, с. 94-94