Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
2011 9th East-West Design & Test Symposium (EWDTS)
сборник
Год издания:
2011
Серия:
Symposium EWDTS
Издательство:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Местоположение издательства:
Piscataway, NJ, United States
ISBN:
978-1-4577-1958-5
Добавил в систему:
Кожухов Максим Владимирович
Статьи, опубликованные в сборнике
2011
Si BJT and SiGe HBT performance modeling after neutron radiation exposure
Petrosyants Konstantin
,
Vologdin Eric
, Smirnov Dmitry,
Torgovnikov Rostislav
,
Kozhukhov Maxim
в сборнике
2011 9th East-West Design & Test Symposium (EWDTS)
, серия
Symposium EWDTS
, издательство
Institute of Electrical and Electronics Engineers
(Piscataway, NJ, United States)
, с. 267-270
DOI
2011
Simulation-based hardware verification with time-abstract models
Kamkin Alexander
в сборнике
2011 9th East-West Design & Test Symposium (EWDTS)
, серия
Symposium EWDTS
, издательство
Institute of Electrical and Electronics Engineers
(Piscataway, NJ, United States)