Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Proceedings "Scannig probe microscopy - 2002"
сборник
Год издания:
2002
Место издания:
Институт физики микроструктур РАН Нижний Новгород
Сборник тезисов
Добавил в систему:
Жихарев Александр Владимирович
Статьи, опубликованные в сборнике
2002
Influence of Si+ and Ar+ implantation on surface layer structure and mechanical characteristics of titanium alloy
Zhikharev A.V.
,
Bystrov S.G.
,
Bykov P.V.
,
Drozdov A.Yu
,
Bayankin V.Ya
в сборнике
Proceedings "Scannig probe microscopy - 2002"
, место издания
Институт физики микроструктур РАН Нижний Новгород
, тезисы, с. 160-162
2002
Probe modifications and development of model samples for use in chemical force microscopy
Bystrov S.G.
,
Shakov A.A.
,
Zhikharev A.V.
в сборнике
Proceedings "Scannig probe microscopy - 2002"
, место издания
Институт физики микроструктур РАН Нижний Новгород
, тезисы, с. 163-165