|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Тез. докл. XXV Российской конф. по электронной микроскопии и 2-й Школы молодых ученых «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов (РКЭМ-2014)сборник
- Год издания: 2014
- Том: 1
- Место издания: Черноголовка
- Сборник тезисов
- Добавил в систему: Леонюк Николай Иванович
Статьи, опубликованные в сборнике
-
- 2014 Анализ эффективности кольцевых полупроводниковых детекторов отражённых электронов в РЭМ
- Дицман С.А., Зайцев С.В., Купреенко С.Ю., Лукьянов А.Е., Рау Э.И.
- в сборнике Тез. докл. XXV Российской конф. по электронной микроскопии и 2-й Школы молодых ученых «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов (РКЭМ-2014), место издания Черноголовка, том 1, тезисы, с. 196-197
-
- 2014 ИЗУЧЕНИЕ МОРФОЛОГИИ И ФАЗОВОГО СОСТАВА ПОВЕРХНОСТИ СУЛЬФИДНЫХ МИНЕРАЛОВ МЕТОДАМИ АСМ, РЭМ, РФЭС И ИК-СПЕКТРОСКОПИИ
- Бунин И.Ж., Копорулина Е.В., Рязанцева М.В., Хабарова И.А., Анашкина Н.Е.
- в сборнике Тез. докл. XXV Российской конф. по электронной микроскопии и 2-й Школы молодых ученых «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов (РКЭМ-2014), место издания Черноголовка, том 1, тезисы, с. 508-509