![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Симпозиум посвящен вопросам развития и применения методов сканирующей микроскопии (электронной и зондовой) и аналитических методов исследования в физике твердого тела, материаловедении, нанотехнологии, химии, биологии, медицине. В рамках симпозиума проведена 3-я Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов". Научная программа симпозиума предусматривает следующие разделы: I. секция Электронная оптика и новые приборы, обработка изображений. II. секция Растровая электронная, растровая просвечивающая электронная, ионная микроскопия, аналитические и дифракционные методы. III. секция Сканирующая зондовая микроскопия и зондовая нанолитография. IV. секция Применение сканирующей электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике и нанотехнологиях. V. секция Применение сканирующей электронной и зондовой микроскопии в химии и геологии. VI. секция Применение сканирующей электронной, зондовой и конфокальной микроскопии в биологии, медицине и экологии.