Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Proc. 3rd European Symposium “X-Ray Topography and High Resolution Diffraction”, Palermo, Italy, 22-24 April 1996. P. 197.
Симпозиум
Даты проведения:
1996
Место проведения:
Palermo, Italy, Italy
Добавил в систему:
Бушуев Владимир Алексеевич
Доклады:
1996
An advanced X-ray HRD studies of microdefects in Si doped GaAs bulk crystal.
Авторы:
Ломов А.А.,
Бушуев В.А.
,
Bocchi C.
,
Имамов Р.М.
,
Franzosi P.
1996
Effect of multiple diffuse scattering on Laue X-ray diffraction by crystals with microdefects.
Автор:
Бушуев В.А.
1996
Models of the correlated interfacial roughness in multilayers and diffuse X-ray scattering.
Авторы:
Бушуев В.А.
,
Козак В.В.
1996
Wave-optical description of X-ray phase contrast images of weakly absorbing non-crystalline objects with a high-resolution diffractometry.
Авторы:
Бушуев В.А.
,
Ингал В.Н.
,
Беляевская Е.А.