![]() |
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Задача изучения строения пленки на подложке сложнее, чем свободной. Предложен метод изучения строения 2х или 3х одинаковых пленок на различных подложках, что дает возможность получения надежной информации о ее строении. Выявлены инварианты. Введена поправка на конечность области измерения.