|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Исследование полупроводниковых наноматериалов ZnS, ZnSe методом XAFSтезисы доклада
- Авторы: Кривенцов В.В., Валеев Р.Г., Бельтюков А.Н., Мухгалин В.В., Романов Э.А., Максимовский Е.А., Якимчук Е.П., Хорев А.Г., Новгородов Б.Н., Мезенцев Н.А.
- Сборник: Спектрометрические методы анализа
- Тезисы
- Год издания: 2013
- Первая страница: 51
- Последняя страница: 51
- Добавил в систему: Бельтюков Артемий Николаевич