Спектрометрические методы анализасборник

Статьи, опубликованные в сборнике

---

• • 2013 XAFS - исследование наноструктур Ge и GaAs, локализованных в упорядоченных порах оксидного темплата
  • Кривенцов В.В., Валеев Р.Г., Бельтюков А.Н., Мухгалин В.В., Романов Э.А., Максимовский Е.А., Якимчук Е.П., Новгородов Б.Н., Мезенцев Н.А.
  • в сборнике Спектрометрические методы анализа, тезисы, с. 50-50
• • 2013 Исследование полупроводниковых наноматериалов ZnS, ZnSe методом XAFS
  • Кривенцов В.В., Валеев Р.Г., Бельтюков А.Н., Мухгалин В.В., Романов Э.А., Максимовский Е.А., Якимчук Е.П., Хорев А.Г., Новгородов Б.Н., Мезенцев Н.А.
  • в сборнике Спектрометрические методы анализа, тезисы, с. 51-51