Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ИНХС РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Специфика вейвлет-анализа в рентгеновской рефлектометрии тонких пленок для выявления пространственных особенностей электронной плотности
тезисы доклада
Авторы:
Астафьев С.Б.
,
Щедрин Б.М.
,
Янусова Л.Г.
Сборник:
LI I Школа ПИЯФ и молодежная конференция по физике конденсированного состояния
Тезисы
Год издания:
2018
Место издания:
ПИЯФ Санкт-Петербург
Первая страница:
72
Последняя страница:
72
Добавил в систему:
Щедрин Борис Михайлович