|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ИНХС РАН |
||
Использование дифракционной фокусировки рентгеновских лучей для исследования дислокационных микронапряжений ,статья
- Авторы: Суворов Э.В., Никитенко В.И., Мухин К.Ю.
- Сборник: Сб. Материалы 3-го Всесоюзного совещания “Дефекты структуры в полупроводниках
- Год издания: 1978
- Место издания: Институт полупроводников Новосибирск, Академгородок
- Первая страница: 276
- Последняя страница: 276
- Добавил в систему: Суворов Эрнест Витальевич